日本学術振興会「先端ナノデバイス・材料テクノロジー第151委員会」
平成24年度　第3回研究会

「ナノ計測技術の最前線」

研究会の目的

ナノテクノロジーやナノエレクトロニクスの発展のためには、ナノ計測技術の進歩が不可欠です。ナノ計測手段としては、電子、光、探針、イオンなどを用いた方法が主として利用されていますが、より微細な領域の高分解能計測、対象物質の表面から内部までの構造解析・組成分析、時間的変化を含めたダイナミクスの観察、多様な材料および環境への適用など、要求される範囲が広がってきています。本研究会では、そのような計測手法の最前線を、第一線の研究者の方々に解説頂き、理解を深めると共に、今後の計測技術の方向性について議論する場としたいと思います。

日時　2012年11月6日(火)　13:00〜17:20

場所　東京大学大学院 工9号館1階会議室

http://sogo.t.u-tokyo.ac.jp/access.html

講演内容とスケジュール

１３：００ 　高柳邦夫 (東京工業大学)
「収差補正電子顕微鏡によるナノ観察最前線」(仮)

１３：４０ 　森田清三（大阪大学）
「原子間力顕微鏡による原子識別・操作組立」

１４：２０ 　大谷 知行（理化学研究所）
「テラヘルツセンシングとイメージング」

１５：００　 休憩　

１５：2０ 　松下智裕 (Spring-8)
「二次元光電子分光による三次元観察とその計測制御法」

１６：００ 　朴 賢洵（理化学研究所）
「電子線干渉顕微鏡と4次元電子顕微鏡の応用」

１６：４０ 　稲田博実（日立ハイテクノロジーズ）
「収差補正電子顕微鏡を用いた原子分解能二次電子像」